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金属镀层测厚仪膜厚仪X荧光光谱仪

更新时间:2024-12-01 17:38:34 编号:863glr1f02381e
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  • 金属镀层分析仪,X荧光光谱仪,X荧光分析仪,XRF仪器

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孙经理

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产品详情

金属镀层测厚仪膜厚仪X荧光光谱仪

关键词
光谱仪,,,膜厚仪
面向地区

元素范围从硫到铀分析时间30秒分析误差3%镀层范围0.005~50微米

X射线镀层测厚仪是一种用于测量材料表面涂层厚度的仪器。工作原理是利用X射线穿透材料,通过测量X射线的透射率来确定涂层的厚度。这种仪器通常用于工业生产中的表面涂层质量控制和监测,可以帮助企业确保产品符合规定的涂层厚度要求,提高产品的质量和生产效率。

硬件配置
高功率高压单元搭配微焦斑的X光管,的了信号输出的效率与稳定性。
能的将不同的元素准确解析,针对多镀层与复杂合金镀层的测量,有着不可比拟的优势。
在准直器的选择上也有着很大的优势,它可以搭配的准直器更小:0.1*0.3mm,中0.15mm;中0.2mm;中0.3mm;中0.5mm等等。用超小的准直器得到的超小光斑,让更小样品的测量也变得游刃有余。

设计亮点
全新的下照式设计,一键式的按钮,减少摆放样品时间。全新的光路系统,大大减少了光斑的扩散,实现了对更小产品的测试。
搭配高分辨率可变焦摄像头,配合距离补正算法,实现了对不规则样品(如凹凸面,拱形,螺纹,曲面等)的异型测试面的测试。
人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。
曲线的中文备注,让您的操作更易上手。
仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

多功能自动微区X荧光膜厚测试仪,既满足原有微小和复杂形态样品的膜厚检测功能,又可满足有害元素检测及轻元素成分分析;搭载自动化的X/Y/Z轴的三维系统、双激光定位和保护系统,可多点位编程测试,被广泛应用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量。

仪器配置
01 立的X/Y/Z轴控制系统
02 微焦斑X光管
03 可变高压电源
04 防撞板外加防撞激光保护检测器对仪器进行双重安全保护
05 Fast-SDD探测器
06 双激光定位装置
07 标配可自动切换的准直孔和滤光片

江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,注册资本49551.1725万。旗下拥有苏州天瑞环境科技有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、上海贝西生物科技有限公司、天瑞环境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞环境科技有限公司、河南省天瑞环境科技有限公司、厦门质谱仪器仪表有限公司、苏州智慧天瑞环保科技有限公司、湖北天之瑞智海创新研究院有限公司九家全资子公司和江苏国测检测技术有限公司、上海磐合科学仪器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全资源化有限公司、雅安天瑞水务有限公司、安岳天瑞水务有限公司五家控股子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

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